中图仪器VT6000系列3D高精度共聚焦显微镜集成X\\Y\\Z三个方向调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前工作。仪器以转盘共聚焦光学系统...

CEM3000系列高分辨率SEM扫描电镜用于对样品进行微观尺度形貌观测和分析。它空间分辨率出色和易用性强，用户能够非常快捷地进行各项操作。甚至在自动程序的帮助下...

SuperViewW系列白光干涉三维光学轮廓仪以3D非接触方式，测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模...

SuperVirewW白光干涉表面3D轮廓仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。白光干涉...

SuperViewW1白光干涉三维表面测量系统广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件...

CEM3000系列一键自动聚焦扫描电镜共涵盖CEM3000A（大样品仓型）和CEM3000B（抗振型）两款强化机型，CEM3000A在不改变整机外观尺寸的情况下...

中图仪器白光三维光学轮廓测量仪适应于从超光滑到粗糙度各种表面类型的样品。仪器外壳与内部运动机构采用了分离式设计，有效隔离了声波振动的传导；外接气源和加压装置直接...

CEM3000系列超清成像台式扫描电镜是一款用于对样品进行微观尺度形貌观测和分析的紧凑型设备。空间分辨率出色和易用性强，用户能够非常快捷地进行各项操作。甚至在自...

NS系列探针接触式台阶仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。NS系列台阶仪采用了线性可变差动电容传感...

VT6000共聚焦三维表面形貌测量显微镜可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精...

CEM3000系列国产钨灯丝台式扫描电镜无需占据大量空间来容纳整个电镜系统，这使其甚至能够出现在用户日常工作的桌面上，在用户手边实时呈现所得结果。此外，该系列台...

NS系列纳米级台阶测厚仪能够测量纳米到330μm或1050μm的台阶高度，能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹...

CEM3000超高分辨率台式扫描电镜是一款用于对样品进行微观尺度形貌观测和分析的紧凑型设备。它具有出色的电子光学系统，优于4nm的空间分辨率，保证了高放大倍数下...

SuperViewW国产白光干涉测量仪是一款用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量的检测仪器。它以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法...

NS系列微纳样品台阶测量仪具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和...

CEM3000优于4nm高分辨率台式扫描电镜是一款用于对样品进行微观尺度形貌观测和分析的紧凑型设备。空间分辨率出色和易用性强，用户能够非常快捷地进行各项操作。甚...

NS系列涂层厚度测量台阶仪采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等...

SuperViewW白光干涉3D显微测量仪具有测量精度高、操作便捷、功能齐全、测量参数涵盖面广的优点，测量单个精细器件的过程用时短，确保了高款率检测。

CEM3000系列台式扫描电镜能够不受场地尺寸制约，真正做到了空间适用性，用户甚至可以将其就近摆放在自己的桌面上。同时CEM3000也能根据用户需求，轻松移机，...

NS系列国产台阶仪测量膜厚仪器采用了磁吸式测针，当需要执行换针操作时，可现场快速更换扫描测针，并根据软件中的标定模块进行快速标定，确保换针后的精度和重复性，减少...